スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部(代表取締役：山田 英美)は、2019年1月30日(水)-2月1日(金)に東京ビッグサイトで開催される、「nano tech 2019 第18回 国際ナノテクノロジー 総合展・技術会議」に出展いたします。

会場では、ナノマテリアル・3Dプリンティングに関連した測定装置を多数展示します。様々な装置を一度に見ることができるうえ、測定や機器購入に関する疑問も解決できる機会です。また、会期中展示会場内で行われる、シーズ＆ニーズセミナーにて、新製品動的光散乱測定装置のセミナーやXRD、粒子画像分析装置のセミナーを行います。

ゼータサイザーPro

■出展の見所

＜新製品ゼータサイザーPro・Ultra＞

2018年5月に発売されました、新製品ゼータサイザーPro、ゼータサイザーUltraが登場します。

動的光散乱法による粒子径測定装置のゼータサイザーPro、Ultraは、ナノ領域の分析をカバーする装置として、製薬・バイオ・高分子・化学・鉱業・電気・電子・製紙工業・その他幅広い分野での研究開発・製造管理に用いることができます。

【主な仕様】

測定項目　　：粒子径・ゼータ電位・粒子濃度

測定原理　　：動的光散乱法(粒子径)、電気泳動光散乱法(ゼータ電位)

測定範囲　　：0.3 nm-10 μm(粒子径の場合)

測定濃度範囲：0.1 ppm-40 wt％(粒子径の場合)

2月1日(金)には、シーズ＆ニーズセミナーで発表も行います。

＜卓上型粉末X線回折装置 Aeris(エアリス)＞

卓上型でありながら、ハイエンドモデルの光学系を継承した卓上型粉末X線回折装置 Aeris(エアリス)が展示されます。

粉末やスラリーをサンプルホルダに載せるだけの卓越した操作性、大型装置同等の光学系を搭載することで得られる安定かつ精密なデータ、実験台の上に設置できるコンパクト性を兼ね備えた唯一のX線回折装置です。試料の結晶多形の評価、リートベルト解析による構成成分の定量分析などが実施できるほか、6連のサンプルチェンジャによってより効率的な分析操作、スムーズな試料間の比較を行っていただけます。

【主な仕様】

X線管球　　　　 ：セラミックス絶縁X線管球

出力　　　　　　：300／600 W(40 kV、7.5／15 mA)

ゴニオメータ半径：145 mm

ステップサイズ　：0.001 °

検出器　　　　　：高速半導体検出器 PIXcel(1D) またはPIXcel(3D)

　　　　　　　　　256チャンネル、ピクセルサイズ55 μm

1月30日(水)には、シーズ＆ニーズセミナーで発表も行います。

■展示会概要

展示会名称　： nano tech 2019 第18回 国際ナノテクノロジー 総合展・技術会議

開催日時　　： 2019年1月30日(水)-2月1日(金) 10時-17時

会場　　　　： 東京ビッグサイト東4・5・6ホール＆会議棟

所在地　　　： 〒135-0063　東京都江東区有明3-11-1

主催　　　　： nano tech実行委員会

入場料　　　： Webサイトで事前登録された方は入場無料

　　　　　　　 https://jcd-event.smktg.jp/public/application/add/400?lang=ja

当社小間番号： 東5ホール 5F-22

展示内容：

●新製品　ゼータサイザーPro・Ultra

●ナノトラッキング粒子径測定装置　ナノサイトNS300

●共振式質量・粒子径計測システム　アルキメデス

●粒子画像分析装置　モフォロギ4シリーズ

●レーザ回折式粒子径分布測定装置　マスターサイザー3000

●回転型レオメーター　キネクサス

●マルチ検出器GPC／SECシステム　OMNISEC

●GPC／SEC用絶対分子量測定多角度光散乱検出器　Viscotek SEC-MALS20

●卓上型粉末X線回折装置　Aeris(エアリス)

●多目的X線回折装置　Empyrean(エンピリアン)シリーズ(パネル展示)

■シーズ＆ニーズセミナー

日時　　：1月30日(水)　13:15-14:00

場所　　：A会場(東4ホール会場内)

タイトル：【どんな情報が得られるのか？】濃厚スラリー中の微粒子をXRDで測定

日時　　：1月31日(木)　12:20-13:05

場所　　：A会場(東4ホール会場内)

タイトル：【基礎から応用まで】画像分析法でナノからミクロン粒子を

　　　　　「識別して」「個別に」測定する手法とその応用

日時　　：2月1日(金)　13:15-14:00

場所　　：B会場(東6ホール会場内)

タイトル：【新製品　動的光散乱測定装置ゼータサイザーUltra／Pro】

　　　　　多角度DLS法(MADLS)を用いたサブミクロン粒子評価と

　　　　　ゼータサイザーナノ用自動測定ユニット、ナノサンプラーのご紹介

【会社概要】

商号　　　： スペクトリス株式会社

本社所在地： 〒101-0048　東京都千代田区神田司町2-6 司町ビル

設立　　　： 1980年7月30日

資本金　　： 5,000万円

代表者　　： 代表取締役　山田 英美

社員数　　： 205名(2017年12月末現在)

事業部名　： スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部

東京事業部

所在地　　： 〒105-0013　東京都港区浜松町1-7-3 第一ビル

神戸事業所

所在地　　： 〒650-0047　神戸市中央区港島南町5-5-2 神戸国際ビジネスセンター北館511

ウェブサイトURL： https://www.malvernpanalytical.com/jp

ブログサイトURL： https://www.materials-talks.jp/

■スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部の事業内容

粒子計測装置とX線分析装置を提供する、Malvern Panalytical(マルバーン・パナリティカル)社の日本事業部です。東京と神戸を拠点に国内計6ヶ所の営業所、2ヶ所のアプリケーションラボラトリにて、装置の販売やサービス、サポート業務をはじめ、各種セミナーなどのイベントも行っております。

粒子計測やレオロジー、熱分析(カロリメトリ)などの製品を持つMalvern社と、X線回折や蛍光X線分析装置メーカーであるPanalytical社が2018年に統合し誕生いたしました。各分野のリーディングカンパニーである両社の統合により、R＆D、プロセスコントロール、品質管理など、材料特性分析に携わる幅広い業界のお客様へ、最先端のソリューションをご提供いたします。